FB Find Us on Facebook

Aktualna wersja witryny znajduje się pod adresem:
https://www.polsl.pl/rif/

Zakład Fizyki Stosowanej

adiunkt
Adres:
ul. Konarskiego 22B/113
Gliwice
44-100
Polska
E-mail:
Ten adres pocztowy jest chroniony przed spamowaniem. Aby go zobaczyć, konieczne jest włączenie w przeglądarce obsługi JavaScript.
Telefon:
+48 32 237 1452
Dodatkowe informacje:

Publikacje

  • Marcin Basiaga, Witold Walke, Magdalena Antonowicz, Wojciech Kajzer, Janusz Szewczenko, Alina Domanowska, Anna Michalewicz, Marek Szindler, Marcin Staszuk, Miłosz Czajkowski, 2020. Impact of Surface Treatment on the Functional Properties Stainless Steel for Biomedical Applications. Materials 0(0): 0. https://doi.org/10.3390/ma13214767 [Multidisciplinary Digital Publishing Institute]
  • Basiaga M., Walke W., Kajzer W., Hyla A., Domanowska A., Michalewicz A., Krawczyk C., 2018. Analysis of the corrosion protective ability of atomic layer deposition silica-based coatings deposited on 316LVM steel,Analyse der Korrosionsschutzfähigkeit von atomlagenabscheidungsbasierten Beschichtungen auf 316LVM Stahl. Materialwissenschaft und Werkstofftechnik 49(5): 551–561. https://doi.org/10.1002/mawe.201700244 [Scopus - Elsevier]
  • Matys M., Adamowicz B., Domanowska A., Michalewicz A., Stoklas R., Akazawa M., Yatabe Z., Hashizume T., 2016. On the origin of interface states at oxide/III-nitride heterojunction interfaces. Journal of Applied Physics 120(22). https://doi.org/10.1063/1.4971409 [Scopus - Elsevier]
  • Krol K., Sochacki M., Turek M., Żuk J., Borowicz P., Teklińska D., Konarski P., Miśnik M., Domanowska A., Michalewicz A., Szmidt J., 2015. Influence of phosphorus implantation on electrical properties of Al/SiO2/4H-SiC MOS structure. Materials Science Forum 821-823: 496–499. https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/MSF.821-823.496 [Scopus - Elsevier]
  • Karasiński P., Tyszkiewicz C., Domanowska A., Michalewicz A., Mazur J., 2015. Low loss, long time stable sol-gel derived silica-titania waveguide films. Materials Letters 143: 5–7. https://doi.org/10.1016/j.matlet.2014.12.048 [Scopus - Elsevier]
  • Michalewicz A., Nowak M., Kepinska M., 2006. Differences between surface and bulk refractive indices of a-InxSe1-x. Applied Surface Science 252(21): 7743–7747. https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2006.03.067 [ResearcherID]
  • Michalewicz A, Nowak M, Kepinska M, 2006. Temperature dependence of the energy gap of InxSe1-x compounds. Physica Status Solidi B-Basic Solid State Physics 243(3): 685–689. https://doi.org/10.1002/pssb.200541055 [ResearcherID]
  • Michalewicz A., Jarzabek B., Cisowski J., Jurusik J., Burian A.M., Weszka J., 1998. Some optical properties of amorphous In-Se thin films. Electron Technology (Warsaw) 31(3-4): 411–416. [Scopus - Elsevier]

Początek strony